OmniScan MX EC渦流檢測ECA/EC渦流陣列檢測儀檢測金屬表面缺陷探傷

OmniScan MX ECA渦流陣列檢測

渦流陣列技術(shù)OLYMPUS湖北代理-上海玖橫儀器有限公司

渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢

同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢：

l  檢測時間大幅度降低。

l  單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。

l  減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

l  提供檢測區(qū)域?qū)崟r圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。

l  適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。

l  改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。

粘接檢測，重新打造

相同掃描中的8種頻率OLYMPUS福建代理-上海玖橫儀器有限公司

粘接檢測的改進特性

• C掃描成像
• 可同時驅(qū)動8種不同的頻率
• 計算缺陷大小的性能
• 改進的POD
• 相位/波幅的顯示模式

重要事項

• 由于所使用的探頭與BondMaster 1000e+儀器相同，因此探測方式也與這款儀器相似。
• 設(shè)計支持一發(fā)一收探頭。
• 需要雙軸編碼掃查器生成C掃描。

高級復(fù)合材料檢測

我們Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了一款新開發(fā)的粘接檢測OmniScan解決方案：這無疑是復(fù)合材料檢測行業(yè)中的一大進步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實。這款OmniScan解決方案不僅可*地適用于蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的脫膠檢測，還可以進行分層檢測，且結(jié)果的精確程度與脫膠檢測相比絲毫不差。雖然這個解決方案主要為航空航天工業(yè)的在役檢測而設(shè)計，但是在包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中也非常有用，如：針對復(fù)合材料船體的檢測。

已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標準的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就可以使用這個解決方案完成檢測應(yīng)用。

我們特別為復(fù)合材料的檢測開發(fā)定制了MXB軟件。其新添的功能，如：向?qū)Ш蜆藴驶兄诒３植僮鞯暮啙嵭浴?/p>

編碼系統(tǒng)：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測工件。Olympus提供兩個選項：一個是可*地適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個是WING掃查器，這款掃查器專門為掃查曲面工件而設(shè)計（如：航天飛機的機身），而且因其具有Venturi真空吸盤系統(tǒng)，甚至可以倒置進行操作。此外，裝有步進點擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個系統(tǒng)兼容，從而加強了系統(tǒng)的多用性。

創(chuàng)新型C掃描視圖OLYMPUS西安代理-上海玖橫儀器有限公司

Olympus又一次創(chuàng)新了在屏幕上顯示數(shù)據(jù)的方法。針對每個C掃描，操作人員可以有兩個視圖選擇：一種是波幅C掃描，不會考慮相位情況，只基于信號的波幅而顯示不同的顏色，這是一個可清晰、有效地探測脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描，使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補）缺陷或分層缺陷。

相位C掃描，光標處于鑄封缺陷上

低頻掃描；波幅C掃描，光標處于脫膠缺陷上

高頻掃描；相位C掃描，不同的彩色調(diào)色板

高頻掃描；相位C掃描，光標處于分層缺陷上

兩個C掃描視圖

全屏C掃描視圖

缺陷大小估算功能

要求使用的設(shè)備

這個解決方案有兩種不同的配置，兩種配置都需要以下標準部件。

標準部件OLYMPUS廣州代理-上海玖橫儀器有限公司

OmniScan MX和ECA/ECT模塊

MXB軟件

用于連接OmniScan產(chǎn)品的BondMaster探頭適配器

手動配置 

HSB-01手持式掃查器

半自動配置

雙軸掃查器OLYMPUS長春代理-上海玖橫儀器有限公司

帶ACIX1520探頭架的SPO-5629-PHV探頭

帶ACIX1519探頭架的S-PC-P14探頭

渦流陣列探頭

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設(shè)計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應(yīng)檢測部件的外形。

用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。

用于表面裂痕檢測的探頭。

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渦流陣列軟件

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

l  采集模式顯示分析模式顯示

l  C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷。

l  分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。

l  波幅、相位和位置測量。

l  可調(diào)彩色調(diào)色板。

l  大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應(yīng)。

校準向?qū)?/p>

l  分步進行。

l  一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。

l  波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。

報警

l  ３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。

l  可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀（扇形、長方形、環(huán)形等）。

自動探頭識別和配置

l  探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設(shè)置。

l  頻率范圍保護可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。

實時數(shù)據(jù)處理OLYMPUS石家莊代理-上海玖橫儀器有限公司

l  實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。

l  使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。

l  數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應(yīng)用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。

技術(shù)規(guī)格

• 上一產(chǎn)品:暫無上一篇
• 下一產(chǎn)品:渦流產(chǎn)品用于管材檢測的MultiScan MS5800

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