Dereo 面陣平板探測(cè)器應(yīng)用領(lǐng)域
在任何時(shí)間，任何地點(diǎn)隨時(shí)檢查
-電力工業(yè)、石化工業(yè)、航空航天等領(lǐng)域中的管道及板材焊接質(zhì)量檢測(cè)。。。
-鑄件缺陷檢測(cè)，例如空隙，熱裂隙及雜質(zhì)。
-復(fù)合材料的結(jié)構(gòu)檢測(cè)
-文物（博物館，實(shí)驗(yàn)室，大學(xué)。。。）
 

Dereo 面陣平板探測(cè)器主要特點(diǎn)：
便攜性  -在任何地方都能得到X射線(xiàn)影響
掃描面積  -40x40厘米的有效區(qū)域，適合拍攝較大物體
快速安裝  -隨時(shí)得到X射線(xiàn)影像
數(shù)字化    -直接得到結(jié)果
          -數(shù)字影像后處理
          -Tiff和jpg格式
          -容易存檔和報(bào)告
          -不需要更多的消耗品（膠片和化學(xué)試劑）與暗室
圖像質(zhì)量  -高分辨率 高對(duì)比度（14位）
kV范圍    -可以用X射線(xiàn)穿透多種不同的物體和材料，從紙片到70毫米的鐵片
薄        -可以容易地將探測(cè)器放入被測(cè)物體與障礙物之間
實(shí)時(shí)攝像  -可以實(shí)時(shí)地得到X射線(xiàn)影像，并同步調(diào)節(jié)曝光參數(shù)，已得到影像
靈活性    -可以和任何種類(lèi)的X射線(xiàn)發(fā)生器匹配工作
經(jīng)濟(jì)實(shí)惠  -具有非常*功能的高配置的系統(tǒng)，只需要低廉的價(jià)格


Dereo面陣平板探測(cè)器
有效面積：41x41cm
分辨率：200μm
灰度：14bits（16bits備選）
Gadox或SCI屏
外形尺寸：530x575x30mm
重量：小于11.4千克
無(wú)能量限制
實(shí)時(shí)成像：
-每秒1幀
-每秒4幀（可選）

Maestro軟件
實(shí)時(shí)濾鏡
可調(diào)節(jié)查找表（LUT）
放大縮小以及屏幕調(diào)整
黑白反轉(zhuǎn)
圖片旋轉(zhuǎn)
水平/垂直翻轉(zhuǎn)
修剪
測(cè)量/輪廓
可按需求提供任何語(yǔ)言版本，開(kāi)發(fā)新的軟件工具。
DeReo工作站
-筆記本電腦
-屏幕尺寸15.6英寸或更大
-雙核32-bits或64bits處理器+集成顯卡
-RAM DDR3 Go
-Windows XP 32-bits or Windows 7（32bits or 64bits）

Dereo選件
實(shí)時(shí)成像
Wifi組件
電池供電
通過(guò)Maestro軟件控制GemX IP66儀器箱

GemX便攜式直流X射線(xiàn)發(fā)生器：            GemX-160(140kg)
-無(wú)線(xiàn)遙控:                             Yes
-電池供電（X射線(xiàn)連續(xù)30分鐘）或外接電源:Yes
-電壓范圍:                             20-160kV
-電流：                                0.1-2mA
-小焦點(diǎn):                               Be or AI
-絕緣:                                 Oil（2h of X-ray/day）
-穿透力:                               1% contrast resolution up to 25mm with 
                                       Dereo（at 160kV）
-符合各種地形360度旋轉(zhuǎn)手柄:            Yes
-附件：                                Tripod，leadcap，laser point，...劑量計(jì)