當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測設(shè)備 > 萬睿視VAREX平板探測器 > F2923-NDT高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板
簡要描述:高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板,F2923 為二維 CMOS X 射線平板探測器,具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動態(tài)范圍等特點。綜合應(yīng)用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設(shè)計技術(shù)及 ADC 集成一體化方案,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊,技術(shù)性能優(yōu)良?;谄淇煽啃愿?、 易于集成等特點,可有效降低在苛刻環(huán)境中、重負荷應(yīng)用下 對成像系統(tǒng)的校準和維護要求。
產(chǎn)品分類
Product classification相關(guān)文章
RELATED ARTICLES詳細介紹
高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板
F2923-NDT 為二維 CMOS X 射線平板探測器,具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動態(tài)范圍等特點。綜合應(yīng)用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設(shè)計技術(shù)及 ADC 集成一體化方案,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊,技術(shù)性能優(yōu)良?;谄淇煽啃愿摺?易于集成等特點,可有效降低在苛刻環(huán)境中、重負荷應(yīng)用下 對成像系統(tǒng)的校準和維護要求。
CMOS平板探測器有三款可以選擇:F1512-NDT, F2923-NDT, F3035-NDT
產(chǎn)品特點
? 精細像素 ? 圖像延遲小 ? ADC 集成一體化結(jié)構(gòu) ? 快速的模式切換
? 極低噪聲 ? 穩(wěn)定的數(shù)據(jù)偏移校正 ? 極寬動態(tài)范圍 ? 低功耗
? 高幀率 ? 快速的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)接口 ? 抗輻照
產(chǎn)品應(yīng)用
? 無損檢測 ? 高等院校 ? 研究院所 ? 材料科學(xué) ? 航空航天
高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板
上海玖橫儀器有限公司是一家由多名無損檢測技術(shù)銷售團隊組織成立,專業(yè)從事無損檢測技術(shù)設(shè)備的研發(fā)、銷售及技術(shù)服務(wù)于一體的企業(yè)。主要產(chǎn)品有:電磁超聲高溫腐蝕檢測儀(高溫腐蝕儀)、電磁超聲探傷儀、超聲波探傷儀、超聲波測厚儀等檢測儀器;同時代理國內(nèi)國外超聲波成像系統(tǒng)(TOFD、相控陣、水浸 C 掃描)和射線成像系統(tǒng)(CR/DR/實時成像系統(tǒng))、汽車點焊分析儀、內(nèi)窺鏡檢測設(shè)備及自動化檢測設(shè)備等。
產(chǎn)品咨詢
銷售熱線
在線咨詢微信公眾號
移動端瀏覽